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ROHS分析仪就是X射线荧光光谱仪，其分析事理也就是X射线荧光光谱仪的分析事理。X射线荧光光谱仪常日可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长光谱仪紧张部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量光谱仪则只需激发源和探测器和干系电子与控制部件，相对大略。

波长色散X射线荧光光谱仪利用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，颠末进程测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：λ=2dsinaθ(n=1,2,3…) 式中，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以或许或许或许或许测得分析谱线的衍射角，利用上式可以或许或许或许或许打算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，颠末进程测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：Q=kE式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的相应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故颠末进程测定电荷量可获得待测元素的特征信息。

待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源紧张有射线光管和同位素激发源等。为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技能，并对获得的强度结束干系的谱分析和数据处理。www.olympus-ims.com.cn